2009年7月1日水曜日

5号館広角X線の更新 S61卒 渡辺 敏行

 5号館(旧称:界面混相棟、電子工学科棟)に設置してあったリガクの広角X線装置RAD-Cの更新が決定した。RAD-Cが導入されたのは多分私が学生時代だったから、今から20年以上も前のことになる。この機械には大変お世話になった。徹夜で測定も良くしたし。平成時代になって、数多くの卒業生が利用した筈である。メインテナンスしてくれた野口先生に感謝する次第である。当時の装置としてはめずらしくパソコンを備え、データ収集、解析ができたのだから画期的ではあったのだが、今となっては時代遅れの制御機器と、測定装置になってしまった。なにしろ制御装置がカシオ計算機のPCで、しかもカシオ計算機versionのMS-DOSで動くのである。データファイルをテキストデータとして取り出せない等の問題もあった(その後ソフトが追加され測定データをテキストデータに変換できるようになった)。それにしても20年以上良くパソコンが壊れなかったと思う。カシオ計算機の信頼性は相当なものである。最近の赤外分光光度計、紫外可視分光光度計、蛍光分光光度計、DSC、TOF-MAS等は本体よりもまず、パソコンが壊れ、OSが古くなって、利用できなくなるものが大半である。Linuxとか利用して、OSの陳腐化は防げないものでしょうか。新しく導入予定の装置は有機・無機粉末、触媒、高分子、磁性材などの結晶性固体材料の定性・定量分析、結晶構造解析、格子定数の測定、結晶化度の評価、結晶粒径分布解析、および、有機薄膜、半導体薄膜の方位・配向分析、膜厚評価、面内均一性評価を行うためシステムであり、強力X線発生部、X線検出器、光学系切替ユニット、粉末、薄膜、小角測定用アタッチメント、および、データ解析ソフトウェアにより構成されている。現在、B社が良いかR社が良いか検討中である。

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